Sパラメータ法 誘電率・透磁率測定 技術概要

測定対象の材料を含む伝送路のSパラメータを元に誘電率・透磁率を求めることができます。 材料を自由空間に設置して測定するフリースペース法と、同軸線路や導波管などの閉じた空間に材料を挿入して測定するサンプルホルダー法に大別されます。 いずれも材料の周波数特性を評価するのに最適です。また、損失の比較的大きい試料やフィルム状に加工することが難しい試料の測定に有効です。
一方で、損失測定の精度がネットワーク・アナライザの測定精度に直接依存するため低損失材料の評価には制限があります： Tanδ0.01あたりが測定限界の目安です。（低損失材料の評価には共振器法が有効です。）
Keysight材料測定スイート N1500Aと組み合わせることで、効率的で信頼性の高い材料測定が行えます。 N1500Aは、さまざまなアルゴリズムに対応していますが、その中でも代表的なものを以下に示します。